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自動橢圓偏振測厚儀(yi)

產品簡介

自動橢圓偏振測厚儀 型號:TPY-2
采用消光法自動測量薄膜厚度和折射率,具有精度高、靈敏度高以及自動控製等特點。光源采用氦氖激光器,功率穩定波長精度高。
儀器采用USB接口與電腦連接,配套軟件功能齊全,具有多樣數據采集及處理方式,於不同用戶的需要。

產品型號:
更新時間:2024-02-12
廠商性質:生產廠家
訪問量:1584

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產品分類
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自動橢圓偏振測厚儀(yi)  型號:TPY-2

自動橢圓偏振測厚儀(yi)

儀(yi) 器介紹
采用消光法自動控製,自動測量薄膜厚度和折射率,具有精度和靈敏度更高等特點。光源采用氦氖激光器,功率穩定、波長精度高。儀(yi) 器采用USB接口與(yu) 電腦連接,配套軟件功能齊全,具有多樣數據采集及處理方式,適用於(yu) 不同用戶的需要。
規格參數
測量範圍薄膜厚度範圍:1nm-300nm;折射率範圍:1-10
測量厚度**小示值(nm)≤1
偏振器方位角範圍0°- 180°讀取分辨率為(wei) 0.05°
偏振器步進角0.014°/步
測量膜厚(nm)±1
折射率重複性精度±0.01
度盤刻度每格1度
儀(yi) 器測量精度(nm)±0.5(薄膜厚度在10-100nm時)
入射角調節範圍20°~90°精度為(wei) 0.05°
入射光波長(nm)632.8
光學中心高(mm)80
允許樣品尺寸(mm)φ10-φ140(或任意形狀),厚度≤15
外形尺寸(mm)590*390*320
主機重量(kg)28 

折射率重複性精度±0.01
度盤刻度每格1度
儀(yi) 器測量精度(nm)±0.5(薄膜厚度在10-100nm時)
入射角調節範圍20°~90°精度為(wei) 0.05°
入射光波長(nm)632.8
光學中心高(mm)80
允許樣品尺寸(mm)φ10-φ140(或任意形狀),厚度≤15
外形尺寸(mm)590*390*320
主機重量(kg)28 配置表



型號
名稱
數量
基本配置
TPY-2
橢圓偏振測厚儀主機
1台
TPY-2
主機電控箱
1套

二氧化矽膜樣片
1片
TPY-2
橢圓偏振測厚儀**用軟件
1套
需另配
計算機及打印機
1套


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