產(chan) 聲學多普勒流速剖麵儀(yi) 型號：LSH10-1P-22A品簡介LSH10-1P-22A型聲學多普勒流速剖麵儀(yi) 采用**平麵陣列單波束測量技術，體(ti) 積小巧，安裝方便，實時監測中小河流，河口，溪流，入口渠道的流速測量，可水平，斜線，垂直三種測量模式。性能特點1、進的換能器平麵陣列布局；2、內(nei) 置流速存儲(chu) ；3、測量單元zui大可達65個(ge) ；4、測量距離範圍到20米；5、工作頻率2000KHz；6、可外接多種水位測量儀(yi) 器；7、實時在線流速、流量和水位測量；8、直接顯示圖形化顯示和流速剖麵曲線圖；...

粉末布林值測定儀(yi) 型號：ALC-26ALC-26型粉末布林值測定儀(yi) ，采用空氣滲透測定法表征粉末的比表麵積，可以快速直觀地反映混合粉的比表麵積，是粉體(ti) 生產(chan) 質量控製的主要分析手段之一，將取代篩分純度，更直觀的表現粉子的特性。儀(yi) 器特征：本產(chan) 品符合ASTMC204-84、YS/T734-2010標準設計製造。**用控製軟件和高清觸摸屏人機界麵，可實現儀(yi) 器的校準、測量、結果計算、參數設置、數據存儲(chu) 、測量結果查詢等功能。係統預留數據網絡傳(chuan) 輸功能，可以實現實驗室數據的集中管理和實時共享。高尺...

常溫藥物凝點儀(yi) 型號：YN-700本儀(yi) 器嚴(yan) 格按《中國藥典》凝點測定法設計製造,測定藥物由液體(ti) 凝結為(wei) 固體(ti) 時候,在短時間內(nei) 停留不變的**高溫度.某些藥品具有一定的凝點,純度變更,凝點亦隨之改變.測定凝點可以區別或檢查藥品的純雜程度。采用保溫杜瓦瓶透明觀察，可以在做樣時透明觀察凝固點，優(you) 質冷軋鋼板成型，表麵靜電噴塑處理。主要特點：1.中文液晶屏顯示，適時顯示儀(yi) 器的溫度、時間、參數等工作狀態2.采用**的單片機智能控溫，控溫精度高3.設計單槽2孔進行凝點測試，準確易用技術指標：顯示方式...

個(ge) 人聲暴露計型號：HS5910HS5910個(ge) 人聲暴露計是一種測量指數時間計權聲級的通用聲級計，又是能測量時間平均聲級的積分聲級計和測量聲暴露的個(ge) 人聲暴露計，其性能符合GB/T15592-2010/IEC61252:2002（電聲學個(ge) 人聲暴露計規範）標準要求，同時也符合GB/T3785-2010和IEC61672-2002標準對2級聲級計的要求。本儀(yi) 器采用**的數字檢波技術，具有可靠性高、穩定性好、動態範圍寬等優(you) 點。點陣液晶顯示，用戶操作簡便，電池供電，測量結果長期保存在儀(yi) 器內(nei) ...

除顫效應測試儀(yi) 型號：CC96751.輸出電壓：DC2~5kV精度：±3%2.測試時間：200ms精度：±50%3.測試報警時間：10s、5s精度：±1s4.內(nei) 置10Hz、2Hz正弦波信號發生器5.內(nei) 置信號發生器電壓：5Vpp精度：±10%6.電源：AC220±10%50Hz7.工作條件：環境溫度：10~40℃；相對溫度：30~70%；大氣壓力：75kPa-106kPa。1.輸出電壓：DC2~5kV精度：&p...

粉末布林值測定儀(yi) 型號：ALC-26ALC-26型粉末布林值測定儀(yi) ，采用空氣滲透測定法表征粉末的比表麵積，可以快速直觀地反映混合粉的比表麵積，是粉體(ti) 生產(chan) 質量控製的主要分析手段之一，將取代篩分純度，更直觀的表現粉子的特性。儀(yi) 器特征：本產(chan) 品符合ASTMC204-84、YS/T734-2010標準設計製造。**用控製軟件和高清觸摸屏人機界麵，可實現儀(yi) 器的校準、測量、結果計算、參數設置、數據存儲(chu) 、測量結果查詢等功能。係統預留數據網絡傳(chuan) 輸功能，可以實現實驗室數據的集中管理和實時共享。高尺...

數顯玻璃製品應力檢查儀(yi) 型號:WZY-250D玻璃製品應力檢查儀(yi) 是應用偏振光幹涉原理檢查玻璃的內(nei) 應力或晶體(ti) 雙折射效應的儀(yi) 器。儀(yi) 器備有靈敏色片，並應用1/4波片補償(chang) 方法，因此本儀(yi) 器不僅(jin) 可以根據偏振場中的幹涉色序定性判斷玻璃的內(nei) 應力，還可以準確定量的測量玻璃內(nei) 應力的數值。WZY-250D適用於(yu) 對各種玻璃瓶、罐、杯、玻璃管、燈泡、異型製品、玻璃器皿、水晶製品、人工寶石、光學玻璃、PET瓶坯及其它光學材料應力值的測量和產(chan) 品質量控製,還可用於(yu) 判定透明注塑製品殘餘(yu) 應力分布，有助於(yu) 優(you) 化模具設...

四探針方阻電阻率測試儀(yi) 型號：一.描述Description：采用範德堡測量原理能解決(jue) 樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械遊移等外部因素對測量結果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數據處理及數據分析.中文或英文語言版本.二.參照標準standard：矽片電阻率測量的標準（ASTMF84）及國家標準設計製造；GB/T1551-2009《矽單晶電阻率測定方法》、GB/T1552-1995《矽、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.三.適用範圍Applicablescope：適用於(yu) ...